庫侖電解法鍍層測厚儀
簡要描述：庫侖電解法鍍層測厚儀/鍍層厚度測試儀GalvanoTest 2000是德國ElektroPhysik公司GalvanoTest系列電解膜厚儀中功能較為基本的一款，用電解庫侖法微破壞式測量各種金屬鍍層厚度。
產(chǎn)品型號：GalvanoTest 2000- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時間：2024-07-08
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庫侖電解法鍍層測厚儀/鍍層厚度測試儀GalvanoTest 2000 概述：
可測實際應(yīng)用的所有鍍層
利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層
符合標(biāo)準：DIN EN ISO 2177
庫侖電解法鍍層測厚儀/鍍層厚度測試儀GalvanoTest 2000內(nèi)含支架,RS-232口,三種電解液,有統(tǒng)計功能。GalvanoTest 2000可以解決裝飾鉻層測厚、鎳層測厚、銅層測厚、鋅層測厚、錫層測厚、銀層測厚、金層測厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。
/鍍層厚度測試儀GalvanoTest 2000應(yīng)用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標(biāo)準件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門及科研機構(gòu)。
/鍍層厚度測試儀GalvanoTest 2000技術(shù)參數(shù)：
庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST 可以測量 | 2000 |
可以測量70種以上鍍層/基體組合 | 測量 |
可以測量平面、曲面上的鍍層 | 測量 |
可以測量小零件、導(dǎo)線、線狀零件 | 測量 |
預(yù)置10種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金（需提供樣品確定） | 無 |
預(yù)置9種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。 | 測量 |
用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù) | 無 |
用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù) | 測量 |
庫侖鍍層測厚儀測量機構(gòu)： |
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帶循環(huán)泵 | 無 |
帶氣泵 | 測量 |
庫侖鍍層測厚儀測量面積： |
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密封墊 8 mm2 | 測量 |
密封墊 4 mm2 | 測量 |
密封片 1 mm2 | 測量 |
密封片 0.25 mm2（涂鍍層面積幾乎小得看不見） |
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電解杯 0.25-16 mm2 （可選件） | 測量 |
庫侖鍍層測厚儀測量參數(shù)*化調(diào)整： |
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除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào) | 測量 |
根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù) | 測量 |
可用厚度標(biāo)準樣板校準 | 測量 |
可調(diào)整終點電壓，以抗干擾，適應(yīng)鍍層/基體之間的合金 | 測量 |
GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲 |
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可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目 | 10 |
可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值 | 2000 |
儀器斷電后可保持所有校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。 | 測量 |
庫侖鍍層測厚儀統(tǒng)計計算： |
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顯示6種統(tǒng)計值：均值、標(biāo)準偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小值、讀數(shù)個數(shù) | 測量 |
立即或稍后顯示統(tǒng)計值 | 測量 |
立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值 | 無 |
顯示、打印年、月、日、時、分 | 測量 |
用于外設(shè)的計算機接口： |
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MINIPRINT 微型打印機接口 | 測量 |
RS-232，PC計算機接口 | 測量 |
連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口 | 測量 |
電解液飽和報警指示 | 無 |
測量的不確定性： |
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5%，在8mm2面積下，經(jīng)校準 | 測量 |
庫侖鍍層測厚儀電源： |
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110/220V，50/60HZ，10W | 測量 |
測量范圍： |
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zui大測量范圍：0.05-75μm | 測量 |
